Основы структурного анализа химических соединений
- Author: Порай-Кошиц М.А.
- Language: rus tilida
- Writing: rus yozuvida
- Publisher: Высшая Школа, Москва
- Year: 1989
- Views: 101
Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического, Во втором издании расширены ключевые разделы современного реитгеноструктуриого анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. Предназначается для студентов химических специальностей университетов.